ISO 16232顆粒物提取方法
顆粒是導致軸承故障的重要原因。為避免軸承意外受損，需要對軸承組件進行清潔度評估，以便評估并保證軸承的性能。IS0 16232規定了四種顆粒雜質的提取方法。.
·搖動法：向軸承組件注入已知量的溶劑，封口后搖動，提取雜質。
·加壓沖洗：使用試驗液體加壓沖洗軸承，沖掉雜質以便提取。
·超聲波技術：超聲波產生的微氣泡在顆粒附近聚爆。然后顆粒就會被排出，在提取液中收集顆粒。
·功能試驗：模擬組件的運行狀態，使用流動的液體將雜質從軸承表面分離，然后提取顆粒，見圖4。
不論選擇哪種提取方法，都要遵循…個共同的原則。IS0 16232介紹了一種有效的顆粒提取方法，如公式(1)與圖1所示。
Sn代表最后一次提取的顆粒數量，Si代表每次收集到的顆粒數量。也就是說，直到最后一次的采樣值(Sn)小于等于總采樣值的1/10時才能停止提取。但是，如果6次提取之后仍不能滿足公式(1)，則提取參數無效，應重新檢查。
必須要注意的是，圖中的空白值反映組件操作和測試引入的雜質，該值也應小于假定的用重量法測定的清潔度水平的10%，或小于相關尺寸顆粒的規定數量的10%。
然后，可以通過兒種方法來測定與分析提取的液體。根據ISO l6232，表1列出了幾種不同的分析方法。實際操作時可以根據對分析結果的要求選擇一種或多種方法。
表 顆粒分析方法匯總
| 方法 | 設備 | 參數 | 結果 | 限制 |
| 重量評估 | 天平 | 總重量 | 清潔度水平，沒有單個顆粒的重量 | 環境條件(包括濕度等) |
| 光學顯微鏡 | 實驗室手動或自動立體顯微鏡 | 顆粒分布（長度、面積等） | 清潔度水平，包括顆粒數據 | 顆粒數量不能過多，避免覆蓋 |
| 掃描電子顯微鏡 | 手動或自動掃描式電子顯微鏡 | 顆粒分布、顆粒類型 | 清潔度水平，包括全面的顆粒尺寸和類型數據 | 顆粒數量不能過多，避免覆蓋 |
| 自動消光 | 顆粒計數器 | 受限制顆粒分布（等效直徑） | 清潔度水平，包括顆粒數據 | 顆粒介質稀疏分布，避免覆蓋 |
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